Materialeigenschaften und Oberflächenanalyse
Oberflächentopographie
| Rasterelektronenmikroskop | JEOL JSM-6510QSEM |
| Lichtmikroskop Keyence | VHX 500 |
| Atomkraftmikroskop | AMBIOS Universal |
Schichtdickenmessung
Kalottenschliff | Calotest CSEM |
Tastschnitt-Profilometer | Hommeltester 8000 |
Wirbelstrommethode | DUALSCOPE® MP0R-FP USB |
Röntgenfloureszensanalyse | Fischer X-Ray XAN 120 |
Mechanische Eigenschaften
Gitterschnitt | Elcometer 107 |
Ritz- und Mikrohärte | Kombitester CSEM |
Zugprüfmaschine | Z15kN |
Element- und Materialanalyse
| Röntgenfloureszensanalyse | Fischer X-Ray XAN 120 |
Energiedispersive Röntgenspektroskopie | Bruker Quantax EDS |
FTIR-Spektroskopie | Bruker Tensor 27 |
Bruchmechanische Bauteilbewertung | ADAPCRACK3D |
Korrosionsverhalten
| Salzsprühtest | VLM SAL 400 S |
Oberflächenenergie und Benetzungseigenschaften
Kontaktwinkelmessung | Dataphysics OCA20 |
Elektrische Eigenschaften
Oberflächenleitfähigkeit | Fischer Elektronik - Milli TO3 |
Umweltsimulation
Klimawechseltest | Vötsch VCL 4010 |
