Materialeigenschaften und Oberflächenanalyse

Oberflächentopographie

RasterelektronenmikroskopJEOL JSM-6510QSEM
Lichtmikroskop KeyenceVHX 500
AtomkraftmikroskopAMBIOS Universal

Schichtdickenmessung

Kalottenschliff
Calotest CSEM
Tastschnitt-Profilometer
Hommeltester 8000
Wirbelstrommethode
DUALSCOPE® MP0R-FP USB
Röntgenfloureszensanalyse
Fischer X-Ray XAN 120

Mechanische Eigenschaften

Gitterschnitt
Elcometer 107
Ritz- und Mikrohärte
Kombitester CSEM
Zugprüfmaschine
Z15kN

 

Element- und Materialanalyse

RöntgenfloureszensanalyseFischer X-Ray XAN 120
Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Bruker Quantax EDS
FTIR-Spektroskopie
Bruker Tensor 27
Bruchmechanische Bauteilbewertung
ADAPCRACK3D

Korrosionsverhalten

Salzsprühtest VLM SAL 400 S

 

Oberflächenenergie und Benetzungseigenschaften

Kontaktwinkelmessung 
Dataphysics OCA20

Elektrische Eigenschaften

Oberflächenleitfähigkeit
Fischer Elektronik - Milli TO3

 

Umweltsimulation

Klimawechseltest
Vötsch VCL 4010

 

keyboard_arrow_up