JEOL JSM-6510QSEM

Hersteller:

Jeol 6510 (Typ JSM 6510)

Spezifikationen:

  • hochauflösendes Kompakt-REM - integriertes energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX)
  • Probendurchmesser: max. 150 mm
  • Vergrößerungsbereich lt. Hersteller: x5 bis x300.000

Anwendung:

  • Abbildung der Oberfläche
  • Ermittlung von Oberflächenstruktur und -zusammensetzung (in Kombination mit EDX-Analyse siehe Bruker Quantax EDS)

Ansprechpartner

M.Sc.
Florian Praße
Fakultät Natur- und Umweltwissenschaften
Standort 02763 Zittau
F-Schneider-Str. 26
Gebäude Z IX, Raum 011
+49 3583 612-4877
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